S型源表应用之microled电性能IV测试

LIV 即光电特性，是验证激光二 管、探测器性能的普遍的方法。在晶圆、切割、管芯、封装后老化测试过程中，为降低生产成本同时增加产品吞吐量，快速可靠的LIV测试系统对制造光电器件的工厂是很重要的。

根据Laser Diode工作原理，通常技术人员要用到电流源来驱动 LD 工作，产生光的同时用光功率计测量光功率来完成LIV特性测试。在不同的测试阶段例如Chip 测试，技术人员将电流源、电压表、电流表、开关、同步触发单元、光功率计集成起来才能完成测试，同时老化测试前后需要将每个管芯或模块的测试数据进行比对，大大增加了系统的复杂程度，影响了测试精度和数据可靠性。

S型源表应用之microled电性能IV测试认准武汉生产厂*普赛斯仪表，普赛斯仪表开发的LIV测试系统采用国产S型数字源表为核心，结合测试软件以及 三方设备积分球探测器完成LD的LIV测试。系统结构简单、精度高、可靠性好、速度快，提高生产效率的同时也增加了测试精度和可靠性，并且降低了测试成本。

需要测试的参数：

驱动电流I,正向压降Vf

光功率Po

阈值电流Ith

拐点Ikink,背光电流Idark

需要仪器列表：

S型国产源表

积分球

可变光源

软件

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