半导体分立器件测试仪

半导体分立器件测试仪之数字源表认准普赛斯仪表，厂*直销、服务完善！普赛斯S型源表国产自主研发，单通道，不支持脉冲输出，触摸屏操作，支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网； 大输出电压达300V， 小电流分辨率10pA，支持USB存储， 键导出数据报告，S系列源表价格优势明显；

普赛斯S型数字源表应用：分立半导体器件特性测试，电阻、二 管、发光二 管、齐纳二 管、PIN二 管、BJT三 管、MOSFET、SIC等；能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等；传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等；有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等；纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等；

普赛斯源表应用方案：二 管IV测试、激光二 管LIV测试、三 管MOS管IV测试、APD管IV测试、太阳能电池板特性参数测试、电池充放电特性参数测试、电化学循环伏安测试；

额外功能（软件实现的）：二 管IV扫描及参数分析、三 管IV扫描及参数分析、LIV测试系统、太阳能电池放电测试系统、电池充放电循环系统等；

S型数字源表简介
S系列源表是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态范围、数字触摸的率 国产化的源表，集电压、电流输入输出及测量等多种功能， 大输出电压达300V， 小测试电流达100pA，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中:半导体IC或元器件，功率器件，传感器，有机材料与纳米材料等特性测试和分析。

S型数字源表特点
5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作
内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV
源及测量的准确度为0.1%，分辨率5位半
四象限工作（源和肼），源及测量范围：高至300V，低至10pA
丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
支持USB存储， 键导出测试报告
支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网

S型数字源表技术参数
大输出功率：30W，4象限源或肼模式；
源限度：电压源：±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；
电流源：±1.05A（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；
过量程： 105%量程，源和测量；
稳定负载电容：<22nF；
宽带噪声(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV Vp-p（典型值）；
线缆保护电压：输出阻抗1KΩ，输出电压偏移<80uV；
大采样速率：1000 S/s；
触发：支持IO触发输入及输出，触发 性可配置；
输出接口：前后面板香蕉头插座输出，同 时刻只能用前或者后面板接口；
通信口：RS-232、GPIB、以太网；
电源：AC 100~240V 50/60Hz；
工作环境：25±10℃；
尺寸：106mm高 × 255mm宽 × 425mm长；

有关半导体分立器件测试仪之数字源表的更多信息，请联系普赛斯仪表销售专员 八 四零六六三四七六为您解答：
用途：
结构：
原理：
额外功能（软件实现的）：
应用*域：
应用方案
替代方案：
源表变形