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*jin的微米技术实现了具有 16 种不同宽度（3 至 50μm）的高精度线对分辨率测试卡。 当今，微焦点成为主流的 X 射线光束尺寸，而分辨率测试卡则是调整、设置、检查和维护 X 射线系统的必要工具。
规格尺寸：40 x 30 mm, 3mm 厚度
硅基：8 x 8 mm, 0.2mm 厚度
吸收材料：金，厚度≥1.0μm
保护膜：铝蒸汽保护膜，厚度 0.1mm
线数：3 线（只有 3-10μm：6 线）
线条宽度（线条与间距宽度相同）：
T 型布局 3、4、5、6、7、8、9、10μm；
Ｉ型布局 15、20、25、30、35、40、45、50μm
线对宽度公差：±10%
工作温度：+10℃至+70℃